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FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀介紹：

       多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率可以被比例接收器接收到。對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。

XULM 240介紹：

       XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

應(yīng)用實例:

XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達2.5nm。